发布单位:三丰智合(北京)科技有限公司 发布时间:2022-5-5
在xrf分析法中,从光发射管里发射出来的高能初级射线光子会撞击样本元素。这些初级光子含有足够的能量可以将里层即k层或l层的电子撞击脱轨。这时,原子变成了不稳定的离子。由于电子本能会寻求稳定,外层l层或m层的电子会进入弥补内层的空间。在这些电子从外层进入内层的过程中,它们会释放出能量,我们称之为二次x射线光子。而整个过程则称为萤光辐射。每种元素的二次射线都各有特征。而x射线光子萤光辐射产生的能量是由电子转换过程中内层和外层之间的能量差决定的。例如,铁原子fe的kα能量大约是6.4千电子伏。特定元素在一定时间内所发射出来的x射线的数量或者密度,能够用来衡量这种元素的数量。典型的xrf能量分布光谱显示了不同能量时光子密度的分布情况。
前者属于x射线荧光光谱仪,后者属于直读光谱仪。两者均可鉴别金属材料的牌号,广泛应用于石油,化工,电厂,煤气等行业的压力容器,管道阀门安装以及现场确认材料,也应用于废料回收,混料检验筛选,以及原材料牌号确认,尤其适合于不锈钢材料的牌号确认以及定量测量元素。但前者不能测量非金属元素例如c,s,p,后者因为属于火花直读光谱,可以另加一个紫外光室,所以可以现场测量非金属元素c,s,p甚至n元素。
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vanta element-s型号分析仪由奥林巴斯成熟的axon技术驱动,具有与vanta系列其他分析仪相同的高计数率和稳定性,可使用户迅速获得检测结果和---。除具备了vanta系列分析仪检测迅速、结果---、坚固---、连通性好等基本特性,可选配的无线连通性能使vanta element-s型号分析仪顺应了工业4.0的变革潮流,走向智能化。
奥林巴斯手持式光谱仪是一款镀层测厚分析、合金成分分析、金属成分分析等多功能为一体的手持式荧光光谱仪。可以帮您在无损检测的前提下测试出样件的镀层厚度,并且这个测试过程---简单轻松:
如果说“把大象装冰箱统共分三步”,那使用奥林巴斯手持光谱仪也仅仅需要三步:
1.选择一个任意金属基材的镀层样品(铁、铜、镍等等都可以)。
2.正确使用我们的工厂镀层方法,或自定义一个特定的应用与可选的单点校准。
3.开始测试。